La cámara de prueba HAST es adecuada para la industria de chips de semiconductores, así como componentes electrónicos, piezas, circuitos integrados, materiales y procesos en aviación, aeroespacial, armas, barcos, industria nuclear, instituciones de investigación científica, universidades y otros campos. Confirma si la falla funcional ocurre debido a la durabilidad (vida útil) o a cambios ambientales mediante ciclos acelerados de alta temperatura, alta humedad, alta presión y pruebas constantes.
| Nombre del producto |
Cámara de prueba de alta tensión acelerada (cámara HAST) |
| Modelo de producto |
HPSC251-M |
El HPSC252-M |
| Volumen del estudio |
51L |
51 L × 2 tanques |
| Tama?o del estudio |
φ380×D450 (R×D) |
φ380 × D450 (R × D) × 2 tanques |
| Tama?o del tanque de almacenamiento |
φ450×D600(R×D) |
φ450 × D600 (R × D) × 2 tanques |
| Dimensiones exteriores |
1200 × 1960 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) |
1200 × 2170 × 1140 mm (ancho × altura × profundidad) |
| Rango de Temperatura |
105℃~150℃ |
| Fluctuaciones de temperatura |
≤±0.5℃ |
| Uniformidad de la temperatura |
≤2℃ |
| Desviación de temperatura |
±2℃ |
| Rango de presión |
110kPa ~ 300kPa (presión absoluta) |