CopyRight ? Chongqing Yinhe Experimental Equipment CO., LTD.
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Menรบs
La cรกmara de prueba HAST es adecuada para la industria de chips de semiconductores, asรญ como componentes electrรณnicos, piezas, circuitos integrados, materiales y procesos en aviaciรณn, aeroespacial, armas, barcos, industria nuclear, instituciones de investigaciรณn cientรญfica, universidades y otros campos. Confirma si la falla funcional ocurre debido a la durabilidad (vida รบtil) o a cambios ambientales mediante ciclos acelerados de alta temperatura, alta humedad, alta presiรณn y pruebas constantes.
| Nombre del producto | Cรกmara de prueba de alta tensiรณn acelerada (cรกmara HAST) | |
| Modelo de producto | HPSC251-M | El HPSC252-M |
| Volumen del estudio | 51L | 51 L ร 2 tanques |
| Tama?o del estudio | ฯ380รD450 (RรD) | ฯ380 ร D450 (R ร D) ร 2 tanques |
| Tama?o del tanque de almacenamiento | ฯ450รD600(RรD) | ฯ450 ร D600 (R ร D) ร 2 tanques |
| Dimensiones exteriores | 1200 ร 1960 ร 1140 mm (ancho ร altura ร profundidad) | 1200 ร 2170 ร 1140 mm (ancho ร altura ร profundidad) |
| Rango de Temperatura | 105โ๏ฝ150โ | |
| Fluctuaciones de temperatura | โคยฑ0.5โ | |
| Uniformidad de la temperatura | โค2โ | |
| Desviaciรณn de temperatura | ยฑ2โ | |
| Rango de presiรณn | 110kPa ~ 300kPa (presiรณn absoluta) | |
Principalmente dedicado al dise?o, fabricaciรณn, venta, consultorรญa tรฉcnica y servicios de mantenimiento de equipos de prueba ambiental, instrumentos y accesorios.
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